72、Tolerance公差
指產(chǎn)品需做檢測(cè)的各種尺度(Demension)，在規(guī)格所能允許的正負(fù)變化總量謂之公差。

73、Touch Up觸修、簡(jiǎn)修
指對(duì)板面一些不影響功能的小缺點(diǎn)，以簡(jiǎn)單的工具在徒手操作下即可進(jìn)行的小規(guī)模的檢修，稱之Touch Up；與Rework有些類似。

74、Twist板翹、板扭
指板面從對(duì)角線兩側(cè)的角落發(fā)生變形翹起，謂之Twist。造成的原因很多，以具有玻纖布的膠片，其緯經(jīng)方向疊放錯(cuò)誤者居多(必須經(jīng)向?qū)?jīng)向，或緯向?qū)曄虿判?。板翹檢測(cè)的方法，首先是應(yīng)讓板子四角中的三點(diǎn)落地貼緊平臺(tái)，再量測(cè)所翹起一角的高度。或另用直尺跟接在對(duì)角上，再以”孔規(guī)”去測(cè)直尺跨板面的浮空距離。

75、Universal Tester泛用型電測(cè)機(jī)
指具有極多測(cè)點(diǎn)(常達(dá)萬(wàn)余點(diǎn))的標(biāo)準(zhǔn)”格距”(Grid)固定大型針盤，并可分別按不同料號(hào)而制作活動(dòng)式探針的針盤，將兩者對(duì)準(zhǔn)套接后所進(jìn)行的實(shí)測(cè)的機(jī)種而言。量產(chǎn)時(shí)只要改換活動(dòng)針盤，就可對(duì)不同料號(hào)量產(chǎn)測(cè)試。且此種大型機(jī)尚可使用高電壓(如 250 V)以對(duì)完工電路板進(jìn)行 Open/Short 的電測(cè)。該等高價(jià)”自動(dòng)化測(cè)試機(jī)” (ATE Automatic Testing Equipemtn)，謂之泛用型或廣用型電測(cè)機(jī)。相對(duì)的另有較簡(jiǎn)單之”專用型”測(cè)試機(jī)(Dedicated Tester)。

76、Vision Systems視覺(jué)系統(tǒng)
利用光學(xué)檢驗(yàn)的技術(shù)，對(duì)板面導(dǎo)體線路與基材在”灰度” (Gray-Scale)上的不同反應(yīng)，進(jìn)行對(duì)比檢查的一種方法，亦即所謂的”自動(dòng)光學(xué)檢查”(Automatic Optical Inspection；AOI)的技術(shù)，可對(duì)內(nèi)層板在壓合前進(jìn)行檢查。

77、Visual Examination(Inspection)目視檢查
以未做視力校正的肉眼，對(duì)產(chǎn)品之外觀進(jìn)行目視檢查，或以規(guī)定倍率的放大鏡(3X ~ 10X)進(jìn)行外觀檢查，二者都稱為”目視檢查”。

78、Waive暫準(zhǔn)過(guò)關(guān)，暫不檢驗(yàn)
產(chǎn)品出現(xiàn)較次要的瑕疵時(shí)，由于情勢(shì)需要只好暫時(shí)過(guò)關(guān)允收，或主觀認(rèn)可品質(zhì)，而暫時(shí)放棄檢驗(yàn)，美式行話稱為Waive。

79、Warp，Warpage板彎
這是PCB業(yè)早期所用的名詞，是指電路在平坦度 (Flatness)上發(fā)生問(wèn)題，即板長(zhǎng)方向發(fā)生彎曲變形之謂，現(xiàn)行的術(shù)語(yǔ)則稱為Bow。

80、Weave Eposure織紋顯露；Weave Texture織紋隱現(xiàn)
此二詞在IPC-A 600D的第 2.5節(jié)中有較正確的說(shuō)明。所謂”織紋顯露”是指板材表面的樹(shù)脂層(Butter Coat)已經(jīng)破損流失，致使板內(nèi)的?？棽计芈冻鰜?lái)。而后者的”織紋隱現(xiàn)”則是指板面的樹(shù)脂太薄，呈現(xiàn)半透明狀態(tài)，致使內(nèi)部織紋情形也隱約可看見(jiàn)。

81、White Spot白點(diǎn)
特指玻纖布與鐵氟龍(Teflon即PTFE樹(shù)脂)所制成高頻用途的板材，在其完成PCB制程的板面上，?？赏敢暱吹?#8221;次外層”上所顯現(xiàn)的織點(diǎn)(Knuckles)，外觀上常有白色或透明狀的變色異物出現(xiàn)，與FR-4板材中所常出現(xiàn)的 Measling或Crazing稍有不同。此”白點(diǎn)”之術(shù)語(yǔ)，是在IPC-T-50E(1992.7)上才出現(xiàn)的新術(shù)語(yǔ)較舊的各種資料上均未曾見(jiàn)。